用量块检定千分尺测量面的平行度,应注意哪些问题?

题目

用量块检定千分尺测量面的平行度,应注意哪些问题?

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相似问题和答案

第1题:

用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度,测量结果可能产生一个合格,一个不合格。


正确答案:正确

第2题:

在测长机上检定长尺寸量块时,应注意哪些问题?


正确答案: 在测长机上检定长尺寸时应注意如下几个问题:
⑴注意选用球形测帽,并找出二测头最大转折点;
⑵注意将量块卧式安放,支承在艾利点上,即距离量块两端面的0.211L;
⑶注意检定时的温度是否准确,温度是否稳定,量块等温时间是否充分。

第3题:

测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度,可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。()

此题为判断题(对,错)。


参考答案:正确

第4题:

对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。


正确答案:错误

第5题:

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?


正确答案: 检定平面度时,使用平面平晶接触测量面后,调出干涉带,按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时,依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间,转动微分筒,使两测量面与平晶接触,并调整平晶使其接触点在同一侧,干涉条纹数减至最少时,分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

第6题:

测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度,可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。


正确答案:正确

第7题:

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。


正确答案:错误

第8题:

测量量范围至500mm的千分尺,其示值误差检定哪些点?用几等几级量块检定?


正确答案: 测量范围至500mm的千分尺,其示值误差的受检点为:A+5.12、A+10.24、A+15.36、A+21.5、A+25。其单位为mm,A为千分尺测量下限。对于0级外径千分尺,用4等或1级量块检定;对1级外径千分尺、板厚、壁厚千分尺用5等或2级量块检定。

第9题:

测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?


正确答案:测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面平行度的检定,所用的平行平晶尺寸为(40~41)mm中依次间隔(0.12~0.13)mm四个尺寸,如40.00、40.12、40.25和40.37mm。

第10题:

测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?


正确答案: 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度,是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条,即2μm,因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μm,检定时,平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的,而对于测量上限大于100mm的千分尺,其工作面的平行度在4μm以上,所以不能用于平行平晶来检定。