CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
第1题：
在用CSK一1A试块进行斜探头入射点和前沿距离的测量时,读数应精确到毫米。()
第2题：
CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
第3题：
CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。（）
此题为判断题(对，错)。
第4题：
利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。
第5题：
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
第6题：
CSK一1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()
第7题：
阶梯试块主要用于测定0°探头（即直探头）的距离幅度特性和（）特性。
第8题：
CSK一1A试块矽50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。()
第9题：
CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
第10题：
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。