X射线荧光光谱仪漂移校正方法分()和()两类。

题目

X射线荧光光谱仪漂移校正方法分()和()两类。

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相似问题和答案

第1题:

X射线荧光光谱仪高压发生器的作用是:()。


正确答案:为X射线管提供高压

第2题:

X射线荧光光谱仪,激发光源采用X射线,试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。


正确答案:正确

第3题:

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。


正确答案: 基体:就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有:
吸收—增强效应,在复杂的样品中,元素间的相互影响,引起IK的变化;
非均匀效应,该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等;
表面效应,由于表面不平整,大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法:使用与未知样基体组成相似的标准样品,常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性(或二次曲线)
薄试样法:当试样的厚度仅为几百或几千埃时,其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和(或)添加重吸收剂,使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法:在试样内加入已知量的内标元素,该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似;在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间,不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法:在未知样中加入一定量的待测元素,比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化;常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法:试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似,也就是说,它们的强度比与试样无关;所选的散射线可以是:X光管靶材的相干和非相干散射线,试样对原级谱的连续谱的散射(即背景);所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线,所选散射线有足够的强度。

第4题:

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。

  • A、分光晶体
  • B、光栅
  • C、棱镜
  • D、反射镜

正确答案:A

第5题:

X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件。


正确答案:错误

第6题:

台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。


正确答案:正确

第7题:

波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。

  • A、发散
  • B、会聚
  • C、平行
  • D、混合

正确答案:A,C

第8题:

需要外接冷却水的仪器是()。

  • A、光电直读光谱仪
  • B、X射线荧光光谱仪
  • C、红外碳硫测定仪

正确答案:B

第9题:

能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。

  • A、能量
  • B、波长
  • C、半导体
  • D、计数

正确答案:A,C

第10题:

X射线荧光光谱仪的X射线发生器由()构成。

  • A、X射线管
  • B、高压电源
  • C、初级电源
  • D、控制器

正确答案:A,B,D