时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量
时间阶段曝光法X线质固定
自举法用铝梯厚度改变X线强度
铝梯下加一层0.5mm厚的铅片
存在间歇效应的影响
第1题：
A.利用气体的电离效应
B.X线强度大时，电离电流大
C.X线强度大时，曝光时间长
D.电容充电电流与X线曝光量呈反比
E.电离电流小时，曝光时间长
第2题：
X线胶片的感光测定方法，错误的是
A.距离法
B.密度仪测定法
C.感光仪测定法
D.铝梯定量测定法
E.时间阶段曝光法
第3题：
关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是
A、利用气体的电离效应
B、X线强度大时，电离电流大
C、X线强度大时，曝光时间长
D、电容充电电流与X线曝光量成反比
E、电离电流小时，曝光时间长
第4题：
CR与普通X线成像比较其优点，叙述错误的是（）。
第5题：
根据X线强度与距离平方成反比定律进行感光测定的方法是（）
第6题：
X线胶片的感光测定方法，错误的是
A．距离法
B．密度仪测定法
C．感光仪测定法
D．铝梯定量测定法
E．时间阶段曝光法
第7题：
X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。
第8题：
关于电离室自动曝光控制叙述错误的是
A.利用气体的电离效应
B.X线强度大时，电离电流大
C.X线强度大时，曝光时间短
D.电容充电电流与X线曝光量成反比
E.电离电流小时，需要的曝光时间长
第9题：
X线胶片的感光测定方法，错误的是（）
第10题：
自举法
距离法
感光仪测定法
时间阶段曝光法
铝梯定量测定法