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单选题关于常规FSE序列的扫描时间，正确的是（　　）。A 扫描时间＝（TE×Ny×NEX）/ETLB 扫描时间＝（TE×TR×NEX）/ETLC 扫描时间＝（TR×Ny×NEX）/ETLD 扫描时间＝（TE×TR×Ny）/ETLE 扫描时间＝TR×Ny×NEX

题目
单选题
关于常规FSE序列的扫描时间，正确的是（　　）。
A

扫描时间＝（TE×Ny×NEX）/ETL

B

扫描时间＝（TE×TR×NEX）/ETL

C

扫描时间＝（TR×Ny×NEX）/ETL

D

扫描时间＝（TE×TR×Ny）/ETL

E

扫描时间＝TR×Ny×NEX

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第1题：

造成卷摺伪影主要是因为：()。

A.视场的范围超出被检查的揭破部位。

B.被检查的揭破部位超出视场的范围。

C.TR过大。

D.TE过大。

E.扫描时间过长。


参考答案：B

第2题：

SE序列T1加权扫描时，如果缩短TE值，正确的变化是（）

  • A、图像对比度提高，扫描时间减少
  • B、图像对比度不变，扫描时间不变
  • C、图像对比度下降，扫描时间增加
  • D、图像对比度提高，扫描时间增加
  • E、图像对比度提高，扫描时间不变

正确答案:E

第3题：

造成卷褶伪影主要是因为

A.视场的范围超出被检物体

B.被检物体超出视场的范围

C.TR过大

D.TE过大

E.扫描时间过长


正确答案：B

第4题：

卷褶伪影产生的主要是原因是（）

  • A、被检查的解剖部位超出了视场范围
  • B、TR过大
  • C、视场的范围超出被检查的解剖部位
  • D、TE过大
  • E、扫描时间过长

正确答案:A

第5题：

造成卷折伪影主要是因为（）

  • A、视场的范围超出被检物体
  • B、被检物体超出视场的范围
  • C、TR过大
  • D、TE过大
  • E、扫描时间过长

正确答案:B

第6题：

造成卷摺伪影主要是因为（）

  • A、视场的范围超出被检查的揭破部位。 
  • B、被检查的揭破部位超出视场的范围。 
  • C、TR过大。 
  • D、TE过大。 
  • E、扫描时间过长。

正确答案:B

第7题：

"常规SE序列质子加权"的扫描参数为以下哪项（）

  • A、TR≥60ms，TE≤1500ms
  • B、TR≥600ms，TE≤2000ms
  • C、TR≥80ms，TE≥2000ms
  • D、TR≥2000ms，TE≤50ms
  • E、TR≤100ms，TE≤1500ms

正确答案:D

第8题：

关于常规SE序列的扫描时间，正确的是

A、扫描时间=TE×NY×NEX

B、扫描时间=TR×NY×NEX

C、扫描时间=TE×TR×NEX

D、扫描时间=TE×TR×NY

E、扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL


参考答案：B

第9题：

在FSE序列中，下列叙述正确的是（）

  • A、回波链越长，扫描时间越长
  • B、回波链越短，扫描时间越短
  • C、回波链越短，扫描时间越长
  • D、回波链越长，扫描时间越短
  • E、扫描时间长短与回波链无关

正确答案:D

第10题：

单选题
关于常规SE序列的扫描时间，正确的是（　　）。
A

扫描时间＝TE×Ny×NEX

B

扫描时间＝TR×Ny×NEX

C

扫描时间＝TE×TR×NEX

D

扫描时间＝TE×TR×Ny

E

扫描时间＝（TR×Ny×NEX）/ETL


正确答案： D
解析：
常规SE序列的扫描时间：扫描时间＝TR×Ny×NEX。式中：TR为重复时间；Ny为相位编码步级数；NEX为信号平均次数。

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