X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。A、时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量B、时间阶段曝光法X线质固定C、自举法用铝梯厚度改变X线强度D、铝梯下加一层0.5mm厚的铅片E、存在间歇效应的影响

题目

X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。

A、时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量
B、时间阶段曝光法X线质固定
C、自举法用铝梯厚度改变X线强度
D、铝梯下加一层0.5mm厚的铅片
E、存在间歇效应的影响

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第1题：

关于电离室自动曝光控制叙述错误的是

A.利用气体的电离效应

B.X线强度大时，电离电流大

C.X线强度大时，曝光时间短

D.电容充电电流与X线曝光量成反比

E.电离电流小时，需要的曝光时间长

正确答案：D

第2题：

采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()

A、直接用X射线胶片曝光

B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光

C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光

D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

参考答案：B

第3题：

关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是

A、利用气体的电离效应

B、X线强度大时，电离电流大

C、X线强度大时，曝光时间长

D、电容充电电流与X线曝光量成反比

E、电离电流小时，曝光时间长

参考答案：D

第4题：

屏／片系统调制传递函数的测试方法是

A.方波测试卡曝光／微密度计扫描法
B.狭缝曝光／微密度计扫描法
C.刃边曝光／微密度计扫描法
D.感光仪曝光／微密度计扫描法
E.时间阶段曝光法／微密度计扫描法

答案：A

解析：

屏／片系统调制传递函数的测试方法是方波测试卡曝光／微密度计扫描法。

第5题：

X线胶片的感光测定方法,错误的是A.距离法B.密度仪测定法C.感光仪测定法SXB

X线胶片的感光测定方法，错误的是

A.距离法

B.密度仪测定法

C.感光仪测定法

D.铝梯定量测定法

E.时间阶段曝光法

正确答案：B
X线胶片的感光测定方法包括A、C、D、E，不包括8。

第6题：

关于电离室控时自动曝光控制,下列叙述错误的是

A.利用气体的电离效应

B.X线强度大时，电离电流大

C.X线强度大时，曝光时间长

D.电容充电电流与X线曝光量呈反比

E.电离电流小时，曝光时间长

正确答案：D

第7题：

X线胶片的感光测定方法，错误的是

A．距离法

B．密度仪测定法

C．感光仪测定法

D．铝梯定量测定法

E．时间阶段曝光法

正确答案：B

第8题：

影响DSA X线能量选择的因素是

A、X线强度

B、X线量

C、摄影部位

D、曝光时间

E、X线检测器与被照体的吸收特性

参考答案：A

第9题：

影响DSAX线能量选择的因素是

A.摄影部位
B.X线量
C.X线强度
D.X线检测器与被照体的吸收特性
E.曝光时间

答案：C

解析：

第10题：

关于电离室自动曝光控时的叙述，哪组是错误的（）

A、X线辐射强度大，电离电流大
B、电容器的放电速率与电离电流成反比
C、V管导通的时间短，曝光时间则短
D、电容器放电电流正比于X线辐射强度
E、电容器放电与X线辐射强度成正比

正确答案:B

X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。A、时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量B、时间阶段曝光法X线质固定C、自举法用铝梯厚度改变X线强度D、铝梯下加一层0.5mm厚的铅片E、存在间歇效应的影响

题目

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