在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关

题目
判断题
在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关
A

B

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第1题:

能够正确发现缺陷大小和形状的探伤方法是()。

  • A、x射线检验
  • B、超声波探伤
  • C、磁粉探伤
  • D、着色检验

正确答案:A

第2题:

下列关于缺陷漏磁通的叙述,正确的是()

  • A、与试件上总的磁通密度有关
  • B、与缺陷自身高度有关
  • C、磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大
  • D、以上都对

正确答案:D

第3题:

在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度有关


正确答案:正确

第4题:

在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关


正确答案:磁通密度;几何形状;方向

第5题:

磁粉探伤时应尽量使磁化电流方向()于缺陷方向,或尽量使磁场方向()于缺陷方向,这样缺陷处才易于堆积磁粉而显示缺陷的存在


正确答案:平行;垂直

第6题:

能正确发现缺陷大小和形状的探伤方法是()。

  • A、x射线探伤
  • B、磁粉探伤
  • C、渗透探伤

正确答案:A

第7题:

在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度无关


正确答案:错误

第8题:

能正确发现焊缝内部缺陷类型和形状大小的探伤方法是()探伤。

  • A、超声波
  • B、射线
  • C、磁粉

正确答案:B

第9题:

下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的

  • A、磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关
  • B、缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小
  • C、在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响
  • D、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小
  • E、当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响
  • F、c,d和e都对

正确答案:F

第10题:

下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述中哪个是正确的()

  • A、它与试件上的磁通密度有关
  • B、它与缺陷的高度有关
  • C、磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大
  • D、以上都对

正确答案:D

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