在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。
第1题：
对分度值为0.02mm的游标卡尺，检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以（）方法检定。
第2题：
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
第3题：
第4题：
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
第5题：
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
第6题：
长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。
第7题：
某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）
第8题：
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
第9题：
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
第10题：
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。