若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。
第1题：
A、平
B、凸
C、凹
第2题：
此题为判断题(对，错)。
第3题：
第4题：
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
第5题：
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。
第6题：
激光测长仪和激光测振仪均以迈克尔逊干涉仪为基础，前者通过计算干涉条纹数的变化来测量长度，后者通过测定检测光与参照光的相位差所形成的干涉条纹数而测量振幅。()
第7题：
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
第8题：
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm
第9题：
当被测件为球形时，测量仪器的测头通常选（）。如果被测件为矩形时，测量仪器的测头则通常选（）。
第10题：
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。