原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()
第1题:
原子内层电子跃迁产生的是
A.靶面
B.电子源
C.轨道电子跃迁
D.特征X线
E.韧致辐射
第2题:
X射线是由高能电子的()运动或原子内层轨道电子()产生的短波电磁辐射。
第3题:
产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()
第4题:
特征X射线是由原子的外层电子能级跃迁产生的。
第5题:
入射光子激发原子从高能级跃迁到低能级时所发生的光辐射称为()
第6题:
第7题:
高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱,形成空穴。此时,外层(高能级)轨道电子向内层(低能级)空穴跃迁,释放能量,产生X线,称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定,与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时,电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱,故不能产生K系特征X线。 有关特征X线的解释,错误的是()
第8题:
原子内层电子跃迁产生的是
A.靶面
B.电子源
C.轨道电子跃迁
D.特征X线
E.轫致辐射
第9题:
原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
第10题:
X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。