利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
第1题：
利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头移动方向应与探头的分割面相垂直。
第2题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）
第3题：
A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行
B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点
C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点
D.底面第一次底波B1<50%满幅，移动探头使底波上升至50%满幅，以探头中心点为缺陷边界点
第4题：
当用双晶直探头在平面上扫查时，应尽可能使探头隔声片的放置方向与探头扫查方向（）
第5题：
对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。
第6题：
用双晶直探头对平面工件探伤时，最好的操作方法是使隔声层（）于探头扫查方向。
第7题：
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）
第8题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
第9题：
超声波检测常用的探头种类有直探头、斜探头、组合双晶探头、水浸探头。
第10题：
用双晶直探头对平面工件探伤时，最好的操作方法是（）