简述OTDR测接头损耗时为什么会出现伪增益现象?
第1题:
OTDR测试产生伪增益现象时,说明接续点后的光纤比接续点之前的光纤发射系数大,并且说明接续点的接续损耗小,接续效果良好。
第2题:
对于OTDR上出现被测光纤是一个增益器的现象,建议大家用双向测试平均取值的办法来对该光纤进行测量。
第3题:
为什么会出现大部分光缆接头衰减过大的现象?如何预防?
第4题:
简述用OTDR测量熔接良好的后向散射曲线有时会出现上升“台阶”,这种“台阶”是表示光纤接头的损耗吗?为什么?
第5题:
用OTDR测光纤时,纤芯折射率影响()测试结果
第6题:
用OTDR测量接头的损耗时需两端测试,再取平均值。
第7题:
简述用后向散射法(OTDR)测量光纤接续点接头损耗平均值的方法及计算公式。
第8题:
OTDR测试时产生的伪增益现象,其最直接的原因是因为接续点之后的光纤反射系数大于接续点前的光纤的反射系数。
第9题:
OTDR测试接头点衰耗时,采用双向测试结果相加除二方法。
第10题:
OTDR在实际的通信线路中进行测量时,为了检查信号光,应启动()设置。