产品某参数在进行Qualify时Cpk=1.25,请问该参数在何种条件下可采用X-RChart进行监控?
第1题:
第2题:
在进行机构参数化建模时,首先创建了若干Point,请问Point与Marker有何不同?
第3题:
A.CtR+C
B.CtR+D
CtR+V
D.CtR+X
第4题:
Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数,一般要求CPK>=1.33,请问这有什么好处?
第5题:
在进行MPS/MRP计算时,可以定义的计划方案参数包括:()。
第6题:
某产品工序参数Qualify时CP=2,CPU=1.8,CPL=1.2则该工序参数的CPK等于()。
第7题:
摩托罗拉General参数中,关于“cell_bar_qualify”说法正确的是()
第8题:
已知某机械产品加工的过程能力指数Cp=1.67,Cpk=1.25。
该过程的偏移系数K约为( )。
A.0.25
B.0.4
C.0.67
D.1.0
第9题:
某产品参数定义的规格为最大50个天,则该产品参数的公差为多少?
第10题:
若某工序参数CP>2而CPK<1,请问此工序有什么问题?