ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数IC.P光谱仪软件中采用这种方法。
第1题：
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。
第2题：
ICP-AES法测定水中多元素时，消除最简单的方法是将样品稀释。（）
第3题：
ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正？
第4题：
用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数与光谱仪的分辩能力无关，可直接使用文献中的干扰系数。
第5题：
用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
第6题：
用ICP-AES法测定水中金属元素时，化学富集分离法用于校正元素间干扰，效果明显并可提高元素的检出能力，但操作手续繁冗，且易引入试剂空白。
第7题：
用ICP-AES法测定水中金属元素，目前常用的、比较简便的校正元素间干扰的方法是（）、或（）。
第8题：
ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。
第9题：
用ICP－AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。
第10题：
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。