在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。
第1题:
一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。
A对
B错
第2题:
检测电力设备局部放电的目的在于反映其()。
第3题:
第4题:
一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。
第5题:
一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。
第6题:
为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ,对反映局部缺陷并不灵敏?
第7题:
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
第8题:
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
A对
B错
第9题:
当电气设备的绝缘电阻反映了设备的绝缘情况,当绝缘受潮、表面赃污或有局部缺陷时,绝缘电阻会()。
第10题:
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。