测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。
第1题：
介质损耗测量能发现被试物所有绝缘缺陷。()
第2题：
变压器绕组绝缘介质损耗因数与（）比较变大或者变小可能是缺陷的反映。
第3题：
第4题：
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。
第5题：
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
第6题：
绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断（），对于判断局部缺陷不灵敏，还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。
第7题：
测量介质损耗因数，通常不易发现（）。
第8题：
当电流互感器末屏绝缘电阻不能满足要求时，可通过测量末屏介质损耗因数作进一步判断，测量电压为2kV,通常要求小于0.015。( )
第9题：
测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
第10题：
测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是（）