在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（）其比例是95%：5%。
第1题：
简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
第2题：
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
第3题：
第4题：
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
第5题：
利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。
第6题：
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
第7题：
以下说法错误的是（）
第8题：
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
第9题：
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
第10题：
荧光光谱分析，用铂金坩埚溶片时，先要在铂金坩埚底部铺满（），以免金属单质腐蚀坩埚。