测P时用下面哪块晶体进行分光()

题目

测P时用下面哪块晶体进行分光()

  • A、LiF220
  • B、Ge111
  • C、LiF200
  • D、PE002
参考答案和解析
正确答案:B
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相似问题和答案

第1题:

用分光光度法测全硅时,()和()均可作掩蔽剂和解络剂。


参考答案: AlCl3;硼酸

第2题:

用721分光光度计测T501含量时,应选用的波长为()nm.

  • A、680
  • B、700
  • C、780
  • D、800

正确答案:B

第3题:

为什么用万用表检查晶体管电路的电阻时要把被测电阻的一端断开?


答:电路中往往有并联支路存在,如不把电阻的一端断开进行测量,则可能测出的是并联等效电阻值,而不是所要测的那个电阻的电阻值。只有把被測电阻的一端断开,然后再用万用表进行测量,才能保证测量结果的准确。

第4题:

采用晶体分光的方法叫能量色散。


正确答案:错误

第5题:

有一块被测压力p=6.5MPA,用弹簧管压力计进行测量,要求测量值准确到1%,是选择一仪表的测量范围?


正确答案: 测量值允许绝对误差值△=p×1%=6.5×1%=0.065MPA
根据被测量在测量上限2/3处左右进行选择:6.5×2/3=9.75MPA
所以应选择刻度为0~10MPA的测量范围。

第6题:

AUTOCAD中的图块可以是下面哪两种类型()。

A.内部块

B.外部块

C.模型空间块

D.图纸空间块


正确答案:AB

第7题:

用721分光光度计测T501含量时,应选用的波长为()nm。

  • A、680
  • B、700
  • C、780

正确答案:B

第8题:

用721分光光度计测T501含量时,应选用的波长为()nm。

A.680

B.700

C.780


参考答案:B

第9题:

用以标定或测试超声探伤系统的,含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫:()

  • A、晶体准直器
  • B、测角器
  • C、参考试块
  • D、工件

正确答案:C

第10题:

利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()

  • A、LiF220
  • B、LiF200
  • C、Ge111
  • D、PE002

正确答案:C