简述超声检测中影响缺陷定位的主要因素有哪些？

题目

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相似问题和答案

第1题：

简述影响吸附过程有哪些主要因素。

正确答案: （1）吸附剂的特性（比表面积、粒度、极性大小、活化条件）
（2）吸附物的性质（极性大小、分子量）
（3）吸附的条件
pH（对蛋白等两性物质在PI附近吸附量最大）；
温度（对蛋白分子，一般认为T↑吸附量↑，考虑到稳定性，通常在0℃or室温操作）；
盐浓度（影响复杂，阻止or促进吸附）；
（4）吸附物浓度与吸附剂用量（吸附物浓度↑，吸附量↑，吸附法纯化蛋白时，要求浓度<1%，以增强选择性，吸附剂用量↑，吸附物总量↑，但过量吸附剂导致成本↑，选择性↓）

第2题：

纵波直探头在检测工件时，有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响（）。

A、影响缺陷的定量
B、影响缺陷的定位
C、影响缺陷的定量、定位
D、检测结果评级的影响

正确答案:C

第3题：

超声法检测混凝土缺陷可用于哪些方面的检测?

正确答案：裂缝深度、内部空洞和不密实区的位置及范围、表面损伤层厚度、混凝土的结合面和混凝土的匀质性。

第4题：

利用A型脉冲反射式超声波探伤仪对缺陷定位时，影响缺陷定位的主要因素有（）。

A、仪器和探头
B、操作人员的影响
C、工件的影响
D、耦合剂的影响

正确答案:D

第5题：

简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？

正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。

第6题：

简述影响超声波在介质中传播速度的影响有哪些？

正确答案: （1）超声波在介质中的传播速度与介质的弹性模量和介质的密度有关。对一定的介质，弹性模量和密度为常数，故声速也是常数，不同介质，声速不同。
（2）超声波波型不同时，声速也不一样。同一介质，传播不同类型声波时，声速也不相同。
（3）介质尺寸大小及介质温度对声速也有一定影响。

第7题：

超声波仪器的水平线性会影响（）

A、缺陷性质判定
B、缺陷定位
C、缺陷大小判定
D、缺陷取向判定

正确答案:B

第8题：

在压力容器受压元件的内部，常常存在着不易发现的缺陷，需要采用无损检测的方法进行探查。射线检测和超声波检测是两种常用于检测材料内部缺陷的无损检测方法。下列关于这两种无损检测方法特点的说法中，错误的是（）。

A.射线检测对面积型缺陷检出率高，对体积型缺陷有时容易漏检
B.超声波检测易受材质、晶粒度影响
C.射线检测适宜检验对接焊缝，不适宜检验角焊缝
D.超声波检测对位于工件厚度方向上的缺陷定位较准确

答案：A

解析：

本题为对锅炉压力容器检验检修安全技术的考查，需要考生了解识记。射线检测对体积型缺陷（气孔、夫渣类）检出率高，对面积性缺陷（裂纹、未熵合类）如果照相角度不适当容易漏检。

第9题：

简述超声检测中影响缺陷定位的主要因素？

正确答案: （1）仪器的影响：主要是仪器水平线性好坏的影响
（2）探头的影响：包括声束偏离、探头双峰、探头斜楔磨损、探头指向性的影响。
（3）工件的影响：包括工件表面粗糙度、工件材质、工件表面形状、工件边界、工件温度、工件中缺陷情况的影响。
（4）操作人员的影响：包括仪器时基线比例；入射点、K值、定位方法不当的影响。

第10题：

影响缺陷定位的因素有哪些？

正确答案:时基线性及标定读数精度、斜探头前沿长度、K值、工件侧面反射、探头声场指向性。

简述超声检测中影响缺陷定位的主要因素有哪些？

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