问答题TEM、SEM图像衬度原理分别是什么

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TEM、SEM图像衬度原理分别是什么

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相似问题和答案

第1题：

实验室为了准确鉴定不同的锌铁合金相，通常采用（）

A、扫描电镜（SEM）
B、透射电镜（TEM）
C、原子力显微镜
D、光学显微镜

正确答案:B

第2题：

选择小焦点的X射线管目的是为了获得（）

A、衬度高的图像
B、底片黑度大的图像
C、分辨力高的图像
D、清晰度高的影像

正确答案:C,D

第3题：

透射电镜图像的衬度与样品成分无关。()

参考答案：×

第4题：

问答题

透射电子显微镜的衬度形成原因是什么？种类有哪些？为什么将散射衬度也称为质量－厚度衬度？

正确答案：（1）衬度是指图像上的明暗差异，是在物镜的背焦面上通过物镜光阑选择衍射斑成像的结果。
（2）包括散射衬度、衍射衬度和相位衬度。
（3）散射衬度是由于试样各部位对电子的散射能力不同引起的，与试样的质量和厚度有关，因此又称质量-厚度衬度。衍射衬度是由于晶体取向不同引起的。相位衬度是由于电子波相位不同引起的。

解析：暂无解析

第5题：

何谓衬度？透射电镜有几种衬度像？其原理是什么？

正确答案:衬度是指试样不同部位由于对入射电子作用不同，在显示装置上显示的强度差异。
透射电镜有三种衬度像：散射衬度像、衍射衬度像、相位衬度像。
散射衬度像是由于样品的特征通过对电子的散射能量的不同变成了有明暗差别的电子图像；衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异；相位衬度是利用电子束透过样品的不同部分后其透射波发生相位差，将这相位差转换为振幅差，实现图像衬度。

第6题：

TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？

正确答案: 萃取复型样品中，除变形材料外，还含有一些物相颗粒，这些物相颗粒的存在使复形型样品不同位置对电子散射能力有所不同，同时样品各处厚度不同，其电子散射能力不同，从而在显示装置上呈现明暗不同的衬度来。

第7题：

TEM怎样得到图像和衍射？

正确答案:当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，由于晶体中原子排列的周期性，各原子所散射的电子波在叠加时互相干涉，形成规则的衍射斑点。

第8题：

对样品进行表面形貌分析时应使用()。

A、X射线衍射(XRD)

B、透射电镜(TEM)

C、扫描电镜(SEM)

参考答案：C

第9题：

问答题

简述SEM的结构和特点（与TEM对比）。

正确答案：（1）由电子光学系统（镜筒）、偏转系统（扫描系统）、信号探测放大系统、图像显示记录系统、真空系统和电源系统等。作用：使电子束产生横向偏转，包括用于形成光栅状扫描的扫描系统，以及使样品上的电子束间断性消隐或截断的偏转系统。偏转系统可以采用横向静电场，也可采用横向磁场。
（2）可直接观察直径10-30mm大块试样，制样方法简单；场深大（景深大），适用于粗糙表面和断口形貌分析观察，图像富有立体感、真实感、易于识别和解释；放大倍数变化范围大，一般为15-20万倍，最大可达30万倍，对于多相、多组成的非均质体材料，便于低倍下的普查和高倍观察分析；具有相当的分辨率，一般为3-6nm，最高可达2nm，但对样品苛求；可以通过电子学方法，有效地控制和改善图像的质量；可进行多种功能的分析：配X射线谱仪进行微区成分分析；配光学显微镜和单色仪进行阴极发光研究等；可使用加热、冷却和拉伸等对样品进行动态试验，观察样品各种环境条件的相变和形态变化。

解析：暂无解析

第10题：

填空题

XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。

正确答案：扫描电子显微分析,透射电子显微分析

解析：暂无解析

TEM、SEM图像衬度原理分别是什么

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