进行簇优化时,如何利用扫频仪的测试结果对区域的覆盖/干扰情况做总体判断?

题目
问答题
进行簇优化时,如何利用扫频仪的测试结果对区域的覆盖/干扰情况做总体判断?
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第1题:

DT(路测)测试中,扫频的目的是()

A.验证覆盖

B.用于发现在某区域各个频点的场强大小,

C.判断有无同频或邻频干扰

D.测试切换


答案:ABC

第2题:

TD-LTE路测中,如路测采集系统发现信号很弱,通过扫频仪扫频也发现信号很弱接近-126dB,下面说法正确的是()

A、基站可能有故障

B、终端测量信号很弱时可用扫频仪确认

C、扫频仪测试不依赖网络,故测试结果更可信

D、扫频仪测试不准


参考答案:ABC

第3题:

对目标建网区域进行(),调查现网的干扰情况,确定建网和传模测试的频点

A.规划

B.扫频

C.传播模型测试

D.其他


参考答案:B

第4题:

扫频仪常用的功能不包括:()

  • A、查找带外干扰
  • B、邻区漏配
  • C、上行覆盖是否有问题
  • D、辅助进行GPS跑偏

正确答案:C

第5题:

扫频仪可用的测试场景不包括()

A.CSFB测试

B.重叠覆盖度测试

C.CW模型矫正测试

D.清频测试


参考答案:A

第6题:

在DT测试过程中,如果网络侧邻区漏配了,并且网络设置不对监测集邻区进行测试的情况下,以下哪种设备可以测试到该漏配邻区的信号强度()

A.扫频仪SCANNER

B.测试终端UE

C.UE和SCANNER

D.干扰测试仪


答案:A


第7题:

干扰排查过程中,下列操作正确的是()

A.使用定向天线连接扫频仪进行室外扫频

B.使用全向天线连接扫频仪进行室外扫频

C.将功放直接连到扫频仪进行功放的杂散测试

D.将馈线口直接连到扫频仪上进行测试


正确答案:A、B、D

第8题:

进行簇优化时,利用扫频仪的测试结果对区域的覆盖/干扰情况做总体判断,以下哪些是正确的()

A.如果打点集中分布于低电平/低信噪比的区域,说明区域有明显的弱覆盖问题,

B.如果打点集中分布于高电平/低信噪比的区域,则说明区域需要解决信号的相互干扰问题。

C.如果打点集中分布于高电平/低信噪比的区域,说明区域有明显的弱覆盖问题,

D.如果打点集中分布于低电平/低信噪比的区域,说明该区域需要解决明显的相互干扰


答案:AB

第9题:

对目标建网区域进行(),调查现网的干扰情况,确定建网和传模测试的频点

  • A、规划
  • B、扫频
  • C、传播模型测试
  • D、其他

正确答案:B

第10题:

扫频仪可用的测试场景不包括( )

  • A、CSFB测试
  • B、重叠覆盖度测试
  • C、CW模型矫正测试
  • D、清频测试

正确答案:A

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