THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。

题目
判断题
THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。
A

B

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第1题:

THDS-A(哈科所)系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。


正确答案:错误

第2题:

在THDS-A设备(哈科所)探测站中,靶温可代表()。

  • A、环温
  • B、保护门温度
  • C、热靶温度
  • D、以上都不对

正确答案:C

第3题:

THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线纵向升不上去,说明探头响应率上升。


正确答案:错误

第4题:

THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响()。

  • A、探测角度
  • B、保护门打开
  • C、保护门关闭
  • D、探测精度

正确答案:D

第5题:

THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。


正确答案:错误

第6题:

THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。

  • A、热靶加热不足
  • B、曲线斜率故障
  • C、探头输出溢出
  • D、热靶加热过快
  • E、起始温度异常

正确答案:A,B,C,D

第7题:

THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。


正确答案:正确

第8题:

THDS-A(哈科所)系统,探头校零故障时,热靶曲线为一水平直线,探头输出信号值都为1伏。


正确答案:正确

第9题:

THDS-A(哈科所)系统,热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的。


正确答案:错误

第10题:

THDS-A(哈科所)系统,单侧热靶异常,一般情况下是室外轨边故障。


正确答案:正确