问答题简述X射线衍射分析的基本原理。

题目

问答题

简述X射线衍射分析的基本原理。

如果没有搜索结果或未解决您的问题，请直接联系老师获取答案。

相似问题和答案

第1题：

简述x、γ射线照相的基本原理。

正确答案: 由于射线具有穿透物质，在物质中具有衰减作用和衰减规律，能使某些物质产生光化学作用和荧光现象等性质。当射线穿过工件达到胶片上，由于无缺陷部位和有缺陷处的密度或厚度不同，射线在这些部位的衰减不同，因而射线透过这些部位照射到胶片上的强度也不同，致使胶片感光程度不同，经暗室处理后就产生了不用程度的黑度。根据底片上的黑度差，即可断定缺陷的有无。

第2题：

比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

正确答案:多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理，多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布，因此只需要测角仪与样品检测器为θ～2θ联动，就可检测到晶体参数；而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动，调整单晶的各个晶面产生衍射，检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数，主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布，进而推断出分子的结构。

第3题：

X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。

参考答案：晶粒要细小;试样无择优取向

第4题：

问答题

简述x、γ射线照相的基本原理。

正确答案：由于射线具有穿透物质，在物质中具有衰减作用和衰减规律，能使某些物质产生光化学作用和荧光现象等性质。当射线穿过工件达到胶片上，由于无缺陷部位和有缺陷处的密度或厚度不同，射线在这些部位的衰减不同，因而射线透过这些部位照射到胶片上的强度也不同，致使胶片感光程度不同，经暗室处理后就产生了不用程度的黑度。根据底片上的黑度差，即可断定缺陷的有无。

解析：暂无解析

第5题：

问答题

分别从原理、衍射特点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。

正确答案：原理：X射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成衍射。
特点：
1）电子波的波长比X射线短得多
2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内
3）电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射
4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
应用：硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软X射线可用于非金属的分析。透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析（确定微区的晶体结构或晶体学性质）

解析：暂无解析

第6题：

X射线晶体衍射分析为什么采用X射线和晶体？

正确答案:X射线：X射线衍射是研究生物大分子结构最精确，分辨率最高的技术，X射线晶体学所使用的是cuka，其波长为1.5418Å，这个尺度与分子中碳原子质检的键距相当，因此刚好适用于解析分子的结构（原子的量级为1Å，可见光波长为几百纳米量级，要想把分子中原子分辨出来，只能用波长量级为Å的电磁波，X射线恰好满足要求）
晶体：单个分子散射的X射线极其微弱，很难检测。晶体中分子以同样的方式排列，其散射的电磁波可叠加而增强信号到可检测水平

第7题：

属于非光谱法的分析方法有：折射法、干涉法、（）、X射线衍射法。

正确答案:旋光法

第8题：

有关X射线衍射的描述,错误的是()。

A、X射线是一种电磁波

B、X射线衍射分析中得到的信息事实上是晶体中原子的电子密度分布图

C、X-射线晶体结晶学技术可用于蛋白质结构的分析

D、X-射线衍射图需要通过计算机进行计算，最终才能得出所测物质的结构特征

答案：B

第9题：

填空题

XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。

正确答案：扫描电子显微分析,透射电子显微分析

解析：暂无解析

第10题：

问答题

X射线衍射分析的基本原理？

正确答案： X射线照射物体时，产生相干散射与非相干散，由于相干散射产生的次级X射线具有相同的波长，如果散射物质内的原子或分子排列具有周期性（晶体物质）则会发生相互加强的干涉现象，这就是X射线衍射分析的基本原理。

解析：暂无解析

简述X射线衍射分析的基本原理。

题目

相似问题和答案

更多相关问题

相关内容