正比计数器
盖革计数器
闪烁计数器
锂漂移硅检测器
第1题：
在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
第2题：
荧光光度法是通过测量在( )照射下的物质，所产生的荧光强度，来确定该物质的浓度。
第3题：
荧光光度法是通过测量在( )照射下的物质所产生的荧光强度，来确定该物质的浓度。
A.X射线
B.紫外线
C.红外线
D.可见光
第4题：
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
第5题：
在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与曝光时间无关。
第6题：
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
第7题：
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
第8题：
X线成像相关的特性中，"X线能激发荧光物质，并转换成可见的荧光"属于（）
第9题：
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）
第10题：
X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。