简述X射线光电子能谱的分析特点。

题目
问答题
简述X射线光电子能谱的分析特点。
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相似问题和答案

第1题:

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()

  • A、原子荧光分析法
  • B、X射线荧光分析法
  • C、X射线吸收分析法
  • D、X射线发射分析法

正确答案:B

第2题:

简述X射线荧光光谱分析的优点。


正确答案: (1)分析速度快,一分钟内可以测定一个样品。
(2)分析元素多,从原子序数8-92号元素都能分析。
(3)分析元素含量范围宽,可分析最高为100%含量,最低可分析到ppm级含量。
(4)X荧光分析为无损分析。
(5)分析精度高,相对误差都在0.5%以下。

第3题:

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。


正确答案: 基体:就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有:
吸收—增强效应,在复杂的样品中,元素间的相互影响,引起IK的变化;
非均匀效应,该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等;
表面效应,由于表面不平整,大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法:使用与未知样基体组成相似的标准样品,常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性(或二次曲线)
薄试样法:当试样的厚度仅为几百或几千埃时,其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和(或)添加重吸收剂,使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法:在试样内加入已知量的内标元素,该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似;在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间,不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法:在未知样中加入一定量的待测元素,比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化;常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法:试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似,也就是说,它们的强度比与试样无关;所选的散射线可以是:X光管靶材的相干和非相干散射线,试样对原级谱的连续谱的散射(即背景);所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线,所选散射线有足够的强度。

第4题:

试比较ESCA光电子能谱,俄歇电子能谱和X-射线荧光光谱原理及特点。


正确答案:ESCA光电子能谱,俄歇电子能谱都是最适宜研究原子的内层电子受激后光电子的能量信息,从而获得物质的组成结构等信息;而X-射线荧光光谱是通过原子内层电子受激后产生的特征波长来反映原子的内层能级结构,从而识别元素,但X-射线荧光光谱不能反映元素的状态。上述三方法的激发源都可使用X-射线作光源。ESCA光电子能谱,俄歇电子能谱都是物质表面分析工具,用于表面组成和化学状态的分析。但是ESCA光电子能谱对Z>32的重元素敏感,而俄歇电子能谱对Z<32的轻元素敏感,并且更适于作元素状态分析。

第5题:

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。

  • A、一次X射线
  • B、二次X射线
  • C、次级射线
  • D、X荧光

正确答案:A

第6题:

简述连续x射线产生机理。为什么工业检测中的x射线用连续x射线描述?


正确答案:在x射线管两端高电压作用下,大量电子飞向阳级靶,与靶相碰撞,由于减速过程各不相同,少量电子经一次撞击就失去全部能量,而大部分电子经过多次制动逐步丧失能量,这就使得能量转换过程中所发生的电磁辐射可以具有各种波长,因此,x射线的波谱是连续分布。这就产生了连续x射线。
在x射线管发出的连续谱和标识谱中,由于产生标识谱的激发电压较低,一般在工业x光机起始管电压以上,不产生标识射线。就是在使用范围产生标识射线,因其强度只占x射线总强度极少的一部分,且能量也很低,检测中起不了什么作用,故工业检测中的x射线用连续x射线描述。

第7题:

X射线荧光分析法有何特点?


正确答案: (1)可以进行无损重复检测。
(2)能分析低、中、高含量元素。特别对于50%以上的高含量元素,分析效果好。
(3)能多元素同时分析。
(4)能分析固体、液体、金属、非金属条件类型的样品。

第8题:

简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?


正确答案: (1)取样要能代表总体样品,即有代表性。
(2)保持加工表面光洁,不能出现多孔、偏析和夹杂物。
(3)表面加工要求试样与标准参比样严格保持一致。
(4)表面加工过程中的应避免污染。
(5)金属样品抛光后应立即进行测量,以便防止金属表面氧化或污染

第9题:

简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?


正确答案: 在X射线荧光光谱分析中,分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

第10题:

简述能量色散X射线荧光分析中的干扰因素?


正确答案:不平度效应
不均匀效应
水分的影响
粉尘的影响