第1题:
双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。
第2题:
双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于()缺陷的探测。
第3题:
双晶直探头由于延迟块的存在,避免了始脉冲引起的盲区问题,可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
第4题:
双晶联合探头,由于盲区较小,因此有利于发现()缺陷的探测。
第5题:
检测近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头。
第6题:
检验近表面缺陷,最有效的探头是()
第7题:
以下哪一条,不属于双晶探头的优点()
第8题:
检验近表面缺陷,最有效的方法是()
第9题:
双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
第10题:
收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。