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涡流检测中，缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。

题目
判断题
涡流检测中，缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。
A

对

B

错

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第1题：

涡流检测线圈中次级绕组的主要作用是（）。

  • A、在试样中感应出涡流
  • B、检出涡流的变化
  • C、在试样中感应出涡流和检出涡流的变化
  • D、提供直流磁饱和

正确答案:B

第2题：

涡流检测线圈必须具备的功能是（）。

  • A、激励涡流和放大信号
  • B、检测并放大信号
  • C、激励涡流和检测信号
  • D、检测并处理信号

正确答案:C

第3题：

涡流检测中,缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。()

此题为判断题(对，错)。


参考答案：正确

第4题：

涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。


正确答案:正确

第5题：

涡流探伤时，是根据检测线圈（）参数的变化来检出工件材质变化的，棒、管和线材通常可用（）式线圈检验。


正确答案:阻抗；通过

第6题：

当一铁磁性材料的工件放在涡流检测线圈中时，线圈的阻抗将被工件中哪一项参数所改变？（）

  • A、电导率
  • B、尺寸
  • C、磁导率
  • D、上述三项

正确答案:D

第7题：

简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？


正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。

第8题：

电涡流式传感器利用涡流效应将检测量的变化转换成线圈的()

A、电阻变化

B、电容变化

C、涡流变化

D、电感变化


参考答案：D

第9题：

当一非铁磁性材料的工件放在涡流检测线圈中时，线圈的阻抗会被工件中的（）项参数所改变？

  • A、缺陷
  • B、电导率
  • C、尺寸
  • D、以上三项都可以

正确答案:D

第10题：

涡流检测中探头线圈有几种方式？


正确答案:三种：穿过式线圈、点探头、阵列式探头。

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