主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。

题目
单选题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。
A

 交叉式

B

 V型串列式

C

 K型串列式

D

 串列式

参考答案和解析
正确答案: C
解析: 暂无解析
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第1题:

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()

  • A、平行且靠近探测面
  • B、与声束方向平行
  • C、与探测面成较大角度
  • D、平行且靠近底面

正确答案:C

第2题:

与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是()

  • A、单斜探头法
  • B、单直探头法
  • C、双斜探头前后串列法
  • D、分割式双直探头法

正确答案:C

第3题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷

答案:C
解析:

第4题:

接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()

  • A、联合双探头
  • B、普通直探头
  • C、表面波探头
  • D、横波斜探头

正确答案:A

第5题:

纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。


正确答案:正确

第6题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

  • A、平行于探测面的缺陷
  • B、与探测面倾斜的缺陷
  • C、垂直于探测面的缺陷
  • D、不能用斜探头检测的缺陷

正确答案:C

第7题:

厚钢板内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷,最有效的探伤方法是()

  • A、单探头纵波法
  • B、单探头横波法
  • C、双斜探头前后串列法

正确答案:B

第8题:

主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。

  • A、 交叉式
  • B、 V型串列式
  • C、 K型串列式
  • D、 串列式

正确答案:B

第9题:

用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。

  • A、平行于探测面
  • B、与探测面倾斜
  • C、垂直于探测面

正确答案:C

第10题:

直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面()的缺陷。


正确答案:平行