在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

题目
单选题
在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
A

其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大

B

其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大

C

其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小

D

其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

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第1题:

一般正常检测条件下,能量相同,强度不同的伽玛射线()

  • A、半值层相同
  • B、光谱相同
  • C、底片相对感光速度相同
  • D、以上都是

正确答案:D

第2题:

在保证修复体强度的条件下,前牙和前磨牙连接体的位置应当设计在()。

  • A、靠近底层冠的切端
  • B、靠近底层冠的龈端
  • C、靠近唇颊侧
  • D、靠近舌侧
  • E、以上均不正确

正确答案:D

第3题:

射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。


正确答案:平行

第4题:

在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

  • A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
  • B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
  • C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
  • D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

正确答案:D

第5题:

透照厚试件时,底片可识别的象质计最小线径为0.32mm,此时散射比n为2,然后利用铅阑和屏蔽板,使散射比减为0.5。为拍照黑度相同的底片,则曝光时间应为原来的几倍?又底片上同一线径的影象对比度为原来的几倍?(假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变)


正确答案:设屏蔽前后获得的同一黑度的曝光量分别为E1和E2,曝光时间分别为t1和t2,直接透射线强度分别为I1和I2,散射比分别为n1和n2,则:E2/E1=I2(1+n2)t2/I1(1+n1)t1--(1)
由题意,两次透照底片黑度相同,即E1=E2,又KV,mA,T,F值不变,即I1=I2,故(1)式可变为:
I.1(1+n1)t1=I2(1+n2)t2,
∴t2/t1=(1+n1)/(1+n2)=(1+2)/(1+0.5)=3/1.5=2--(2)
又设屏蔽前后同一直径金属丝的影像对比度分别为△D1和△D2,
则:△D2/△D1=[-0.434μ2G2σ2d/(1+n2)]/[-0.434μ1G1σ1d/(1+n1)]--(3)由题意,μ1=μ2,σ1=σ2≈1,G1=G2,故:△D2/△D1=(1+n1)/(1+n2)--(4)将(2)式代入(4)式,得到△D2/△D1=t2/t1=2

第6题:

在应用磁粉探伤方法检测铁磁性材料近表面缺陷时,缺陷距表面埋藏深度越深则检测越困难


正确答案:正确

第7题:

RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应()

  • A、缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件
  • B、增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件
  • C、缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件
  • D、增加射线至底片的距离,且将底片远离试件

正确答案:B

第8题:

工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()

  • A、影像重叠
  • B、影像畸变
  • C、影像放大
  • D、以上都有可能

正确答案:C

第9题:

铁磁性试件表面缺陷的高度()一定时,缺陷宽度越(),则漏磁场强度应越()


正确答案:即深度;大;大

第10题:

要想得到良好的射线照相品质,则()

  • A、射源越小越好
  • B、射源离试件越远越好
  • C、底片离试件越近越好
  • D、以上都对

正确答案:D

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