晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

题目
单选题
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()
A

垂直法

B

斜射法

C

表面波法

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第1题:

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法是()

A、斜射法

B、水浸法

C、接触法

D、穿透法


参考答案:A

第2题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

  • A、平行于探测面的缺陷
  • B、与探测面倾斜的缺陷
  • C、垂直于探测面的缺陷
  • D、不能用斜探头检测的缺陷

正确答案:C

第3题:

晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

A.垂直法

B.斜射法

C.表面波法

D.K型扫查


参考答案:A

第4题:

用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。

  • A、平行于探测面
  • B、与探测面倾斜
  • C、垂直于探测面

正确答案:C

第5题:

下面哪种参考反射体与入射声束角度无关:()

  • A、平底孔
  • B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽
  • C、平行于探测面且垂直于声束的横通孔
  • D、平行于探测面且垂直于声束的V型缺口

正确答案:C

第6题:

采用纵波超声波检测法进行检测时,容易较准确地探测出:()。

  • A、任何走向的缺陷。
  • B、与工件探测面走向平行的缺陷。
  • C、与工件探测面走向垂直的缺陷。
  • D、比较薄的板材零件内的缺陷。

正确答案:B

第7题:

晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()

  • A、直射法
  • B、斜射法
  • C、表面波法
  • D、上述三种都不对

正确答案:A

第8题:

超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是()。

A、润滑接触面,尽量减少探头的磨损;

B、排除探头与探测面间的空气;

C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;

D、使探头可靠地接触;


参考答案:B

第9题:

晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

  • A、垂直法
  • B、斜射法
  • C、表面波法

正确答案:A

第10题:

直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面()的缺陷。


正确答案:平行

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