近探测面的缺陷不是总能检出来,因为()

题目
单选题
近探测面的缺陷不是总能检出来,因为()
A

近场效应

B

衰减

C

检测系统的回复时间

D

折射

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第1题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

  • A、平行于探测面的缺陷
  • B、与探测面倾斜的缺陷
  • C、垂直于探测面的缺陷
  • D、不能用斜探头检测的缺陷

正确答案:C

第2题:

按照“右手定则”,工件表面的纵向缺陷,可以通入平行于缺陷方向的电流检测出来。这是因为()

  • A、电流方向与缺陷一致;
  • B、磁场与缺陷垂直;
  • C、怎么通电都一样;
  • D、磁场平行于缺陷

正确答案:B

第3题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷

答案:C
解析:

第4题:

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷


正确答案:错误

第5题:

焊缝表面的纵向裂纹,可以用平行于缺陷方向的电流将其检测出来。这是因为()。

  • A、电流方向与缺陷方向一致
  • B、磁场方向与缺陷垂直
  • C、磁场平行于缺陷方向
  • D、形成的磁感应强度大

正确答案:B

第6题:

超声波探伤只能检查出部件表面的缺陷,探测不出部件内部深处的缺陷。


正确答案:错误

第7题:

近探测面的缺陷不是总能检出来,因为()

  • A、近场效应
  • B、衰减
  • C、检测系统的回复时间
  • D、折射

正确答案:A

第8题:

近表面的缺陷用哪种方法探测最好?()

  • A、后乳化渗透法
  • B、着色渗透法
  • C、可水洗型荧光渗透法
  • D、以上方法均不能探测近表面的缺陷

正确答案:D

第9题:

用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。

  • A、无缺陷
  • B、有规则的缺陷
  • C、有小缺陷
  • D、以上均不是

正确答案:A

第10题:

磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。()


正确答案:错误

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