探针检查测定
冷热刺激法测定
电活力测定
患者主诉
拍X线片
第1题:
第2题:
第3题:
患者李某,26岁,左下第三磨牙低位前倾阻生,曾反复智齿冠周发炎,且因不易清洁而造成相邻前牙邻面龋坏,现要求拔除拔除下颌低位阻生智齿时,最易损伤的神经为A、下颌神经
B、下齿槽神经
C、颊神经
D、舌神经
E、颏神经
拔除下颌阻生智齿时的阻力不包括A、邻牙阻力
B、软组织压力
C、冠部骨阻力
D、根部骨阻力
E、上颌牙阻力
下颌近中阻生智齿造成第二磨牙远中龋坏,此时了解龋坏程度的最佳检查方法是A、探针检查测定
B、冷热刺激法测定
C、电活力测定
D、患者主诉
E、拍X线片
患者于拔牙过程晕厥时,不必要的的处理是A、立即停止手术保持呼吸道畅通
B、吸氧
C、嗅闻氨水等刺激性气体
D、输液纠正酸碱平衡紊乱
E、必要时静脉推注高渗葡萄糖液
拔除过程中远中舌根折断约2mm,牙片示根尖无病变,此时应采取的最佳治疗方案是A、不予拔除暂观察
B、延期拔除
C、翻瓣去骨拔除
D、根尖挺拔除
E、根钳拔除
第4题:
第5题:
第6题:
第7题:
第8题:
A、患者主诉
B、冷测
C、热测
D、电活力测
E、拍X片
第9题:
第10题:
关于阻生智齿,错误的说法是()。患者男性,25岁,右下颌第三磨牙Ⅰ类近中高位阻生,远中无盲袋,X线片示:右下颌第三磨牙近中高位阻生,单个锥形根,近中冠顶于右下颌第二磨牙远中