单选题用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法（）A Downs分析法B Steiner分析法C Tweed分析法D Wits分析法E Wylie分析法

题目

单选题

用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法（）

A

Downs分析法

B

Steiner分析法

C

Tweed分析法

D

Wits分析法

E

Wylie分析法

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第1题：

单选题

反映下颌骨相对于颅部的前后位置关系的头影测量项目（）。

A

Go－Gn

B

Y轴角

C

ANB

D

SNB

E

SNA

正确答案： D

解析：暂无解析

第2题：

多选题

这些术前准备有（　　）。

A

应拍头部正、侧位片、头影测量片，做标准的头影测量分析

B

对比鼻下点、颏点、上下颌牙中线、颏中线、颅颌中线的关系

C

对比软组织颏点与骨性颏点的关系

D

根据腕、手的骺闭合情况评价颌骨发育或生长是否已经终止

E

颞下颌关节的检查

F

下颌角突度及对称性评估

正确答案： F,D

解析：
ABC三项，X线头影测量分析用于正颌外科的目的在于协助诊断，弄清畸形的特征，并用测量分析所取得资料进行治疗设计，疗效预测和评价。D项，确定患者生长发育是否终止，在确定手术时可以确定是否可以利用患者的生长潜能。E项，检查患者的关节是否存在病变，是否会对手术有所影响。F项，评估患者的畸形情况，有利于手术方式的确定。

第3题：

头影测量Y轴角小说明（）.

A、上颌后缩
B、上颌前突
C、下颌前突
D、下颌后缩
E、双颌前突

正确答案:C

第4题：

用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法（）

A、Downs分析法
B、Steiner分析法
C、Tweed分析法
D、Wits分析法
E、Wylie分析法

正确答案:D

第5题：

头影测量SNB角大说明()

A.上颌后缩

B.上颌前突

C.下颌前突

D.下颌后缩

答案C

第6题：

X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段，因为它提供有关于下列哪些信息a．上、下颌基骨与颅底的关系b．上前牙与上颌基骨的关系c．下前牙与下颌基骨的关系d．上下颌前牙的相互关系e．正畸治疗的进展

A、只有abc

B、abcd

C、ade

D、bce

E、以上均正确

参考答案：E

第7题：

头影测量中，SNA角代表

A、上颌基骨对下颌的位置关系

B、上颌基骨对颅部的位置关系

C、上前牙对颅部的位置关系

D、下前牙对颅部的位置关系

E、以上都不是

参考答案：B

用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法（）

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