ICP法进行样品测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。

题目
单选题
ICP法进行样品测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
A

光谱干扰

B

化学干扰

C

电离干扰

参考答案和解析
正确答案: C
解析: 暂无解析
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第1题:

ICP光源不存在连续光谱背景和元素间光谱干扰。

此题为判断题(对,错)。


正确答案:×

第2题:

原子吸收光度法中,背景干扰表现为()。

  • A、火焰中干扰元素发射的谱线
  • B、光源产生的非共振线
  • C、火焰中被测元素发射的谱线
  • D、火焰中产生的分子吸收

正确答案:D

第3题:

原子吸收光度法的背景干扰,主要表现为()形式。

A、火焰中被测元素发射的谱线

B、火焰中干扰元素发射的谱线

C、光源产生的非共振线

D、火焰中产生的分子吸收


本题答案:D

第4题:

原子吸收干扰中的光谱干扰分()和背景干扰。

  • A、物理干扰
  • B、化学干扰
  • C、电离干扰
  • D、谱线干扰

正确答案:D

第5题:

ICP法进行样品测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。

  • A、光谱干扰
  • B、化学干扰
  • C、电离干扰

正确答案:A

第6题:

电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。


正确答案:错误

第7题:

原子吸收中的背景干扰主要来源于()。

  • A、火焰中待测元素发射的谱线
  • B、干扰元素发射的谱线
  • C、光源辐射的非共振线
  • D、分子吸收

正确答案:D

第8题:

光谱分析中的干扰主要包括()干扰,谱线重叠干扰及空白干扰。


参考答案:背景辐射

第9题:

什么是ARL直读光谱的背景辐射和谱线重叠干扰?


正确答案: 1.背景辐射干扰
光谱分析中背景主要由于连续光谱和杂散光所产生。连续光谱的产生起因于黑体辐射、韧致辐射和离子—电子的复合。杂散光效应是由于光谱仪器的缺陷,其光学系统对辐射的散射,使通过非预定途径而 到达接收器(光电倍增管)的任何所不希望的辐射所产生的连续背景。
发射光谱分析中背景辐射干扰,主要是指来自附随物对电弧电极及火焰温度的影响而引起的黑体辐射强度的改变。附随物电离对激发区温度和电子密度的影响而引起电子—离子复合过程中连续光谱辐射强度的变化,以及附随物的强发射线(带)引起的杂散光强度的改变,从而导致分析物表观信号的变化。
2.谱线重叠干扰
谱线重叠干扰是指来自附随物引起饿带状光谱发射和线状光谱发射,以至使这些发射增强或减弱,从而导致谱线重叠引起分析线谱线强度的变化。
3.背景干扰
背景干扰就是指对每一条分析线的谱线强度都必须扣除由于黑体辐射、韧致辐射、电子—离子复合产生的连续光谱及散射光效应所造成的无用信号的干扰。

第10题:

当样品中待测组分和干扰组分的吸收峰重叠且波长接近,干扰组分的吸收又很强时,待测组分的吸收峰只表现为肩峰,或两组分的吸收峰严重重叠,使用()法为宜。

  • A、示差
  • B、双波长
  • C、导数
  • D、计量学分光光度

正确答案:C

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