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在过程控制中，最理想的状态是（ ）。 A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到 B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到 C.统计控制状态与技术控制状态均达到 D.统计控制状态与技术控制状态均未达到

题目
在过程控制中，最理想的状态是（ ）。
A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到
B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到
C.统计控制状态与技术控制状态均达到
D.统计控制状态与技术控制状态均未达到

参考答案和解析
答案：C
解析：
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第1题：

根据上述计算结果，判断过程（ ）。

A.处于统计控制状态和技术控制状态

B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态

C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态

D.未处于统计控制状态和技术控制状态


正确答案：B
B。

第2题：

全稳生产线是指（ ）。A. —道工序达到控制状态的生产线
B.某几道工序达到控制状态的生产线
C.有十道以上工序达到控制状态的生产线
D.道道工序都达到控制状态的生产线


答案：D
解析：
一道工序达到控制状态称为稳定工序，道道工序都达到控制状态称为全稳生产线，SPC之所以能够保证实现全过程的预防，依靠的就是全稳生产线。

第3题：

分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。

A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态

B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态

C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态

D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态


正确答案：A
解析：状态Ⅳ是现场所不能容忍的，需要加以调整，使之逐步达到状态Ⅰ。统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态，是最理想的状态，在生产线的末道工序一般以保持状态Ⅰ为宜。过程达到了所确定的状态后，才能将分析用控制图的控制线延长作为控制用控制图。

第4题：

分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。
A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态


答案：A
解析：
状态IV是现场所不能容忍的，需要加以调整，使之逐步达到状态I。统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态，是最理想的状态，在生产线的末道工序一般以保持状态I为宜。过程达到了所确定的状态后，才能将分析用控制图的控制线延长作为控制用控制图。

第5题：

过程处于统计控制状态，则（ ）。
A.过程中只有偶然因素，没有异常因素
B.过程中只有异常因素，没有偶然因素
C.过程能力指数未必满足要求
D.应继续判断过程是否达到技术控制状态
E.控制图中的点都集中在中心线附近的C区


答案：A,C,D
解析：
统计控制状态，简称控制状态，是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。 过程能力指数的前提是稳态，σ表示过程离散程度，反映了产品加工质量；T是已确定的技术标准，不能由操作人员改变；σ越小，过程能力指数越大，当大到一定程度，经济上未必可行，所以并不是σ的值越小越好，过程能力指数未必满足要求，应继续判断过程是否达到技术控制状态。

第6题：

过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态称为( )。

A．会计控制状态

B．会计与统计控制状态

C．统计控制状态

D．会计或统计控制状态


正确答案：C
解析：统计控制状态简称控制状态，是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。

第7题：

关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态


答案：B,D
解析：
。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

第8题：

统计控制状态达到，技术控制状态未达到的是( )。

A．状态Ⅰ

B．状态Ⅱ

C．状态Ⅲ

D．状态Ⅳ


正确答案：C
解析：根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可以将它们分为四种情况：①状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态；②状态Ⅱ：统计控制状态未达到，技术控制状态达到；③状态Ⅲ：统计控制状态达到，技术控制状态未达到；④状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态。

第9题：

统计控制状态达到，技术控制状态未达到的是（ ）。A.状态I B.状态II C.状态III D.状态IV


答案：C
解析：
根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可以将它们分为四种情况：①状态I。统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态。②状态II。统计控制状态未达到，技术控制状态达到。③状态III。统计控制状态达到，技术控制状态未达到。④状态IV。统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态。

第10题：

加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


答案：B
解析：
。分析用控制图上未显示异常，表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

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