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一百个器件在500小时内进行可靠性试验。在试验期间，发生2个失效，分别发生在T1=110小时和在T2=300小时。失败的器件没被替换。基于该样本，那么在单侧95%置信下限条件下，这些运行600小时可靠度是（）A、0.858B、0.926C、0.976D、0.988

题目

一百个器件在500小时内进行可靠性试验。在试验期间，发生2个失效，分别发生在T1=110小时和在T2=300小时。失败的器件没被替换。基于该样本，那么在单侧95%置信下限条件下，这些运行600小时可靠度是（）

  • A、0.858
  • B、0.926
  • C、0.976
  • D、0.988
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第1题：

若某计算机系统是由500个元器件构成的串联系统，且每个元器件的失效率均为10-7/h，在不考虑其他因素对可靠性的影响时，该计算机系统的MTBF为______小时。

A．2×104

B．5×104

C．2×105

D．5×105


正确答案：A
解析：根据题意，由500个元器件构成的串联计算机系统的总失效率为各元器件的失效率的和，即为500×10-7/h=5×10-5/h。在不考虑其他因素对可靠性的影响时，由于计算机系统的平均故障间隔时间可定义为该系统失效率的倒数，因此该计算机系统的平均故障间隔时间(MTBF)为2×104h。

第2题：

在进行可靠性鉴定试验时，投入试验的产品数一般在（ ）个以上。


正确答案：B

第3题：

若某计算机系统是由500个元器件构存构成的串联系统,且每个元器件的失效率均为10－7／H,在不考虑其他因素对可靠性的影响时,该计算机系统的平均故障间隔时间为()小时。

A.2×104

B.5×104

C.2×105

D.5×105


参考答案：A

第4题：

下面有关置信区间和置信水平的说法正确的有（）。

  • A、置信区间越宽，估计的可靠性越大
  • B、置信区间越宽，估计的准确定越低
  • C、置信水平越大，估计的可靠性越大
  • D、在置信水平一定的条件下，要提高估计的可靠性，就要缩小样本容量

正确答案:A,B,C,D

第5题：

可用于剔除不良元器件，减少早期故障的可靠性试验是( )
A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验

C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验


答案：B
解析：

第6题：

若某计算机系统是由500个相同失效率的元器件构成串联系统，该计算机系统的MTBF为2×104小时，在不考虑其他因素对可靠性影响时，该计算机系统的每个元器件的失效率为(3)。

A．2×10-3/h

B．5×10-5/h

C．10-6/h

D．10-7/h


正确答案：D
解析：设该计算机系统的每个元器件的失效率为λ(/h)。根据题意，由500个元器件构成的串联计算机系统的总失效率为各元器件的失效率的和，即为500λ(/h)。在不考虑其他因素对可靠性的影响时，由于计算机系统的平均故障间隔时间(MTBF)可以定义为该系统失效率(λ)的倒数。根据题意知，该计算机系统的平均故障间隔时间为2×104h，即2×104=1/(500λ)，解得λ=10-7/h。

第7题：

关于不同可靠性试验类型的说法，正确的有（ ）。
A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障
B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性
C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验
D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验
E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷


答案：A,B,C,D
解析：
。可靠性验收试验的H的是确定产品是否符合规定的可靠性要求，而非发现设计缺陷。

第8题：

若某计算机系统是由500个元器件构成的串联系统，且每个元器件的失效率均为10-7/H，在不考虑其它因素对可靠性的影响时，该计算机系统的平均故障间隔时间为___(3)___小时。

(3)A．2×1O4 B．5×1O4 C．2×1O5 D．5×105


正确答案：A
略

第9题：

在电子元器件中，常在一个预应力下进行元器件的筛选试验，淘汰那些可靠性经不起考验的元器件。其采用的可靠性技术是( )。

A.冗余技术
B.预应力筛选
C.应力一强度设计
D.潜在通路分析

答案：B
解析：

第10题：

电视图像的传送在发送端是基于（）器件，而接收端是基于（）器件。而实现这种转换的器件分别是（）和（）


正确答案:光电转换；电光转换；摄像管；显像管

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