CD是指硅片上的最小特征尺寸。

题目
判断题
CD是指硅片上的最小特征尺寸。
A

B

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相似问题和答案

第1题:

地面分辨率是能够在照片上()。

  • A、区分两个目标的最小间距
  • B、表示地面物体的最小尺寸
  • C、描述物体的特征

正确答案:A

第2题:

硅片关键尺寸测量的主要工具是什么?


正确答案:硅片关键尺寸测量的主要工具是扫描电子显微镜(SEM),它能放大10万到30万倍,这明显高于光学显微镜,用扫描电子显微镜观测硅片的横截面部分能提供缺陷的信息,常与其他分析技术结合使用,如EDX或FIB。

第3题:

实际偏差是指()减去基本尺寸所得的代数差。

A、实际尺寸

B、最大尺寸

C、最小尺寸

D、平均尺寸


参考答案:A

第4题:

隙配合中最小间隙是指孔的下极限尺寸与轴的上极限尺寸之和。


正确答案:错误

第5题:

上偏差尺寸是()减去基本尺寸所得的代数差。

  • A、最大极限尺寸
  • B、最小极限尺寸
  • C、实际尺寸
  • D、极限尺寸

正确答案:A

第6题:

上偏差是最小极限尺寸减其基本尺寸所得的代数差。


正确答案:错误

第7题:

最大实际尺寸是指()

  • A、孔和轴的最大极限尺寸
  • B、孔和轴的是小极限尺寸
  • C、孔的最小极限尺寸和轴的最大极限尺寸
  • D、孔的最大极限尺寸和轴的最小极限尺寸

正确答案:C

第8题:

尺寸偏差是指()尺寸与其相应基本尺寸的代数差。

A、实际

B、最小极限

C、设计

D、最大极限


参考答案:A

第9题:

上偏差是最小极限尺寸与基本尺寸的代数差。


正确答案:错误

第10题:

对于孔,最大实体尺寸是指()。

  • A、最小极限尺寸
  • B、最大极限尺寸
  • C、实效尺寸
  • D、实际测量得到的尺寸

正确答案:A