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影响记忆的主要因素有（）。

题目

影响记忆的主要因素有（）。

  • A、情绪因素
  • B、注意力
  • C、脑部器质性疾病
  • D、外界刺激或环境的干扰
  • E、意识状态
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第1题：

影响有腹筋的斜截面破坏形态的主要因素是()和()。


参考答案：剪跨比;配箍率

第2题：

关于内隐记忆与外显记忆的关系，下列表述正确的有（　　）

A.内隐记忆不受作业任务类型的影响，而外显记忆则明显受作业类型的影响
B.内隐记忆随时间的延长而发生的消退要比外显记忆慢得多
C.记忆负荷量越大外显记忆的成绩越差，但记忆负荷量对内隐记忆没有影响
D.内隐记忆比外显记忆更容易受呈现方式改变的影响

答案：A,B,C,D
解析：
内隐记忆与外显记忆有许多不同之处，具体体现在以下几个方面：①加工深度对内隐记忆与外显记忆的影响不同。②内隐记忆与外显记忆的保持时间不同。③记忆负荷量的变化对内隐记忆与外显记忆产生的影响不同。④呈现方式的改变对内隐记忆与外显记忆的影响不同。呈现方式(如感觉通道)的改变会严重影响内隐记忆的作业成绩，而对外显记忆的效果没有影响。

第3题：

影响迁移的主要因素，有相似性、___________和学习的心向与定势。


正确答案：
原有认知结构

第4题：

影响井下空气湿度有哪些主要因素？


正确答案: 影响井下空气湿度主要因数有以下两点：
（1）季节影响。夏季地面空气温度高，当地面空气进入井下后，因气温逐渐降低而饱和能力变小，矿井空气中的一部分水会在巷道四周和支架上凝结成水珠，因而井巷变得潮湿，使井下空气湿度增加；而冬季则相反，进入矿井的地面空气吸收井巷中的水分，井巷变得干燥，使井下空气湿度降低。
（2）地下水影响。井下含水量大，例如顶板淋水、巷壁渗水或底板出水等，使井下空气湿度增加，有的矿井高达90﹪-100﹪。

第5题：

影响灰熔融性测定结果的主要因素有哪些？以及煤灰成分对其有何影响。


正确答案: 就一定化学组成的煤灰而言，影响其熔融性测定结果的主要原因是试验气氛，其次是加热速度、温度测量、式样尺寸、托板材料以及观察者的主观因素。
煤灰熔融性取决于它的化学组成：
氧化铝：煤灰熔融时起“骨架”作用，能明显提高灰的熔融温度。
氧化硅：煤灰熔融时起“助熔”作用，特别是煤灰中碱性组分含量较高时，助熔作用更明显。
氧化铁：弱还原性气氛中，以FeO存在，随含量增加到40%，煤灰熔融性温度下降到最低；在氧化性气氛中，以Fe2O3形式存在，起升高熔融温度作用。
氧化钙：煤灰熔融时起“助熔”作用，但当其含量超过一定限度时，又起升高熔融温度作用。其它氧化镁、氧化钠、氧化钾一般都起助熔作用。

第6题：

影响长时记忆编码的主要因素有( )

A.编码时的意识状态
B.加工深度
C.组块
D.主观组织

答案：A,B
解析：
影响长时记忆编码的主要因素有编码时的意识状态和加工深度。影响短时记忆编码的因素包括个体觉醒状态、组块和加工深度。主观组织是长时记忆的编码形式之一。

第7题：

关于内隐记忆和外显记忆表述错误的是

A.加工深度并不影响内隐记忆效果，对外显记忆有非常明显的影响
B.内隐记忆保存的时间比外显记忆短
C.记忆负荷对内隐记忆的影响小，对外显记忆的影响大
D.外显记忆容易受到无关因素的干扰，内隐记忆受到的干扰较小

答案：B
解析：
很多研究表朗，随着时间的推移，外显记忆的成绩下降很多，内隐记忆的消退则慢得多。

第8题：

在经济波动时期()

A、利率变化的比率是影响消费的主要因素

B、收取对消费影响极小

C、财富是影响消费的主要因素

D、收入的变化对消费有较大的影响


参考答案：D

第9题：

影响物理风化的主要因素：（）、（）、（）和（）等；影响化学风化的主要因素：（）、（）、（）和（）等；影响生物风化的主要因素：（）和（） 


正确答案:温度的变化；冰蚀；水蚀；风蚀；溶解；水化；水解（最基本作用）；氧化；机械破碎；化学分解作用

第10题：

简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？


正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。

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