用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。
第1题:
A、四块
B、一块
C、二块
第2题:
用平晶检定测量面的平面度时,其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2,式中λ在任何条件下都为0.6。
第3题:
第4题:
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
第5题:
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
第6题:
A、一块
B、二块
C、三块
第7题:
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
第8题:
此题为判断题(对,错)。
第9题:
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
第10题:
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?