用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的(

题目

用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。

  • A、一块
  • B、二块
  • C、三块
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第1题:

千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。

A、四块

B、一块

C、二块


参考答案:B

第2题:

用平晶检定测量面的平面度时,其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2,式中λ在任何条件下都为0.6。


正确答案:错误

第3题:

使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。


参考答案:1/4;同一侧

第4题:

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?


正确答案: 检定平面度时,使用平面平晶接触测量面后,调出干涉带,按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时,依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间,转动微分筒,使两测量面与平晶接触,并调整平晶使其接触点在同一侧,干涉条纹数减至最少时,分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

第5题:

检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。


正确答案:正确

第6题:

用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。

A、一块

B、二块

C、三块


参考答案:B

第7题:

用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。


正确答案:成组

第8题:

测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。()

此题为判断题(对,错)。


参考答案:错误

第9题:

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。


正确答案:错误

第10题:

怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?


正确答案: 对于大于50~150mm千分尺的平行度可以通过Ⅰ、Ⅱ组平行平晶的适当组合进行检定。
1.平行平晶与平行平晶组合法。
2.平行平晶与4等量块组合法。