用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
第1题：
干涉法是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种测量方法。
第2题：
长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。
第3题：
第4题：
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
第5题：
用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。
第6题：
对分度值为0.02mm的游标卡尺，检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以（）方法检定。
第7题：
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
第8题：
干涉法是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种测量方法。
A对
B错
第9题：
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
第10题：
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。