下面述及涡流检测中造成杂乱信号产生的因素,指出哪些是正确的().

题目

下面述及涡流检测中造成杂乱信号产生的因素,指出哪些是正确的().

  • A、表面光洁度
  • B、充分的饱和磁化
  • C、试件与线圈间距离的变动
  • D、放大增益的下降
  • E、a和c是正确的
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第1题:

下面述及涡流检测中对结果显示有影响的因素,指出哪些是正确的().

  • A、试件的磁导率
  • B、试件的尺寸
  • C、试件的热传导率
  • D、试件的振动
  • E、a和b是正确的

正确答案:E

第2题:

检测焊缝时,可能会出现无法用简单几何光学方法判定的反射信号。下面哪些因素会产生影响()

  • A、时间轴的调整不正确
  • B、探头折射角存在偏差
  • C、界面处发生波型转换
  • D、以上都有可能

正确答案:D

第3题:

下面关于选择涡流检测线圈的叙述中,指出正确的句子().

  • A、探头式线圈适用于线材、管材、棒材等的检测
  • B、穿过式线圈适用于管材内壁的检测
  • C、探头式线圈适用于板材或工件表面的局部探伤
  • D、插入式线圈适用于管材等内壁的检测
  • E、c和d是正确的

正确答案:E

第4题:

下面关于涡流检测中相位调整的叙述,指出正确的句子().

  • A、相位调整是为了抑制杂乱信号,只让缺陷信号检测出来
  • B、相位调整是指选用三相交流电中的哪一相
  • C、相位调整是调整移相器的相位角
  • D、为了输出特定相位的缺陷信号,用检波器进行同步检波
  • E、除b以外都对

正确答案:E

第5题:

为了区分开各种因素对涡流的影响,在涡流探伤中应特别重视().

  • A、信号放大
  • B、信号处理
  • C、信号显示
  • D、信号报警

正确答案:B

第6题:

为了区分各种因素对涡流的影响,在涡流探伤仪中应特别重视()。

  • A、信号放大
  • B、信号处理
  • C、信号显示
  • D、信号报警

正确答案:B

第7题:

下面的无损检测方法中,能进行热态在线检测的常规无损方法有()。

  • A、射线检测
  • B、超声检测
  • C、涡流检测
  • D、渗透检测

正确答案:C

第8题:

下面关于涡流检测直流磁饱和的叙述中,指出正确的句子().

  • A、用来抑制因强磁性材料加工引起的磁导率不均匀而造成的杂乱信号
  • B、用来降低强磁性材料的磁导率,从而减小涡流的集肤效应
  • C、用来抑制试件表面凹凸不平所引起的杂乱信号
  • D、用来提高强磁性材料的磁通密度,从而提高探伤灵敏度
  • E、A和B是正确的

正确答案:E

第9题:

涡流检测线圈必须具备的功能是()。

  • A、激励涡流和放大信号
  • B、检测并放大信号
  • C、激励涡流和检测信号
  • D、检测并处理信号

正确答案:C

第10题:

简述涡流检测时,有哪些主要因素会影响线圈阻抗?


正确答案:涡流检测时,影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来:1-η+μrμ
相对磁导率;μeffeff式中:η--填充系数;μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有:电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率:如果电导率σ变,则特征频率fg变[fg=1/(2πμσα),α是试件半径],贝塞尔函数的变量变,有效磁导率变,试验线圈阻抗变。电导率的变化,在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率:非磁性材料,因为μr近似为1,所以对阻抗无影响;磁性材料,因为μr远大于1,所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸:试件几何尺寸通常以直径(或半径)描述。试件直径的变化,不仅影响有效磁导率(分析参见电导率分析),而且影响填充系数。因此,试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷:缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果,使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算,通常是借助于模型进行实验。试验频率:试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比f/fg上,由于有效磁导率是以频率比f/fg为参变量的,随着试验频率的不同,试验线圈在曲线上的位置发生改变。

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