双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
第1题：
双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
第2题：
联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出
第3题：
联合双直探头的最主要用途是：（）
第4题：
单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。
第5题：
频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
第6题：
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
第7题：
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）
第8题：
双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
第9题：
提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
第10题：
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）