用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。
第1题：
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。
A、面积大的，当量也一定大
B、面积大的，当量不一定比面积小的大
C、面积大的，当量反而比面积小的小
D、它们的当量相等
第2题：
在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
第3题：
用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。（）
此题为判断题(对，错)。
第4题：
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。
第5题：
用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的频率（）
第6题：
用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。
A、愈高愈好
B、愈低愈好
C、不太高的频率
D、较寻常为高的频率
第7题：
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
第8题：
用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()
第9题：
一般来说，要检出焊接板中沿熔化区取向的缺陷，最佳的超声检测方法是（）
第10题：
用单探头发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率是（）。