使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。
第1题：
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。
第2题：
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
第3题：
现场焊接的焊缝全断面探伤要用到()
A、K2.5
B、K1
C、直探头
D、串列式扫查架
第4题：
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的（）。
第5题：
焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
第6题：
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）
第7题：
用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行（）扫查，能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
第8题：
可以将实时超声仪器的探头归类为
第9题：
当用双探头法探测铝热焊缝时如何进行扫查？
第10题：
以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。