对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

题目

对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

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第1题:

关于总变差的说法正确的是()。

  • A、等于已释变差和未释变差之差
  • B、等于已释变差与误差之差
  • C、等于已释变差和误差之和
  • D、等于已释变差和未释变差之和

正确答案:D

第2题:

测量仪器分辨力的使用准则应该至少是()。

  • A、公差的1/5
  • B、公差的1/10
  • C、过程变差的1/5
  • D、过程变差的1/10

正确答案:B,D

第3题:

测量仪器分辨力的第一准则应该至少是:()。

  • A、公差的1/5
  • B、公差的1/10
  • C、过程变差的1/5
  • D、过程变差的1/10

正确答案:B

第4题:

测量系统的()通常被称为测量设备的变差。


正确答案:重复性

第5题:

测量系统变差的类型有哪些?


正确答案: 一、位置变差(准确度),包括:偏倚、稳定性、线性
二、宽度变差(精密度),包括:再现性、重复性

第6题:

下列属于系统采取措施的是()。

  • A、通常用来消除变差的特殊原因
  • B、通常由与过程直接相关的人员实施
  • C、大约可纠正15%的过程问题
  • D、通常用来消除变差的普通原因

正确答案:D

第7题:

测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。


正确答案:错误

第8题:

测量分析可将各种来源的变差量化,如来自()。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。

  • A、测量人员的变差
  • B、测量结果的变差
  • C、测量仪器自身的变差
  • D、测量过程的变差

正确答案:A,C,D

第9题:

稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下,是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。


正确答案:错误

第10题:

以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。

  • A、零件的变差
  • B、测量人内部变差
  • C、测量仪器的变差
  • D、测量环境导致的变差

正确答案:A,B,C,D