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半导体芯片制造工
题目
例举并描述硅片拣选测试中的三种典型电学测试。
题目
例举并描述硅片拣选测试中的三种典型电学测试。
参考答案和解析
正确答案:
硅片拣选测试中的三种典型电学测试:
(1)DC测试:第一电学测试是确保探针和压焊点之间良好电学接触的连接性检查。这项检查保证了技术员的测试仪安装正常。
(2)输出检查:硅片挑选测试用来测试输出信号以检验芯片性能。主要验证输出显示的位电平(逻辑“1”或高电平,逻辑“0”或低电平),是否和预期的一致。
(3)功能测试:功能测试检验芯片是否按照产品数据规范的要求工作。功能测试软件程序测试芯片的所有方面,它将二进制测试图形加入被测器件并验证其输出的正确性。
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