由于干法刻蚀中是同时对晶片上的光刻胶及裸露出来的薄膜进行刻蚀的,所以其()就比以化学反应的方式进行刻蚀的湿法还来得差。A、刻蚀速率B、选择性C、各向同性D、各向异性

题目

由于干法刻蚀中是同时对晶片上的光刻胶及裸露出来的薄膜进行刻蚀的,所以其()就比以化学反应的方式进行刻蚀的湿法还来得差。

  • A、刻蚀速率
  • B、选择性
  • C、各向同性
  • D、各向异性
参考答案和解析
正确答案:B
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第1题:

干法刻蚀的目的是什么?例举干法刻蚀同湿法刻蚀相比具有的优点。干法刻蚀的不足之处是什么?


正确答案:干法刻蚀的主要目的是完整地把掩膜图形复制到硅片表面上。
干法刻蚀的优点:
1.刻蚀剖面是各向异性,具有非常好的侧壁剖面控制
2.好的CD控制
3.最小的光刻胶脱落或粘附问题
4.好的片内、片间、批次间的刻蚀均匀性
5.较低的化学制品使用和处理费用
缺点:对层材料的差的刻蚀选择比、等离子体带来的器件损伤和昂贵的设备

第2题:

微细加工技术中的刻蚀工艺可分为下列哪两种()。

  • A、干法刻蚀、湿法刻蚀
  • B、离子束刻蚀、激光刻蚀
  • C、溅射加工、直写加工
  • D、以上都可以

正确答案:A

第3题:

通常情况下,我们改变工艺条件使刻蚀进行中()的刻蚀速率尽量低。

  • A、光刻胶
  • B、衬底
  • C、表面硅层
  • D、扩散区
  • E、源漏区

正确答案:A,B

第4题:

硅微体刻蚀加工和硅微面刻蚀加工的区别在于()

  • A、体刻蚀加工对基体材料进行加工,而面刻蚀加工不对衬底材料进行加工
  • B、体刻蚀加工不对基体材料进行加工,而面刻蚀加工对衬底材料进行加工
  • C、体刻蚀加工可获得高纵横比的结构,而面刻蚀加工只能获得较低纵横比的结构

正确答案:C

第5题:

()是测量在刻蚀过程中物质被移除的速率有多快的一种参数。

  • A、刻蚀速率
  • B、刻蚀深度
  • C、移除速率
  • D、刻蚀时间

正确答案:A

第6题:

举例说明各向同性和各向异性刻蚀的特点。


正确答案:各向同性刻蚀特点是:
1)刻蚀后形成圆弧的轮廓;
2)在光刻胶下面的图形出现侧蚀现象;
3)线宽控制困难;
4)对相邻薄膜的选择比很好。
各向异性刻蚀特点是:
1)可形成垂直的轮廓;
2)可形成较细微的线宽。
湿法刻蚀是利用化学药液与基板表面的薄膜发生化学反应的过程。化学反应没有方向性,因此湿法刻蚀是各向同性刻蚀,溶液在纵向刻蚀的同时,侧面的刻蚀也同时发生,容易出现侧蚀或浮胶现象,导致线宽失真。
P.E和RIE刻蚀是把反应气体通入到反应室中,然后在射频电源作用下产生等离子体,等离子体在电场下与基板表面的薄膜发生化学反应及轰击作用的过程。有物理作用和化学作用,因此PE和RIE是各向异性刻蚀。

第7题:

晶片经过显影后进行坚膜,坚膜的主要作用有()。

  • A、除去光刻胶中剩余的溶剂
  • B、增强光刻胶对晶片表面的附着力
  • C、提高光刻胶的抗刻蚀能力
  • D、有利于以后的去胶工序
  • E、减少光刻胶的缺陷

正确答案:A,B,C,E

第8题:

铜与氯形成的化合物挥发能力不好,因而铜的刻蚀无法以化学反应来进行,而必须施以()。

  • A、等离子体刻蚀
  • B、反应离子刻蚀
  • C、湿法刻蚀
  • D、溅射刻蚀

正确答案:D

第9题:

刻蚀要求在整个晶圆上有一个均匀的刻蚀速率,()是在晶圆上由测量刻蚀过程前后特定点的厚度,并计算这些点的刻蚀速率而得到的。

  • A、选择性
  • B、均匀性
  • C、轮廓
  • D、刻蚀图案

正确答案:B

第10题:

问答题
二氧化硅,铝,硅和光刻胶刻蚀分别使用什么化学气体来实现干法刻蚀?

正确答案: 刻蚀硅采用的化学气体为CF4/O2和CL2.刻蚀二氧化硅采用的化学气体为CHF3. 刻蚀铝采用的化学气体为CL2和BCL2.刻蚀光刻胶采用的化学气体为O2.
解析: 暂无解析