在晶圆或在芯片测试需要什么条件?

题目
问答题
在晶圆或在芯片测试需要什么条件?
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相似问题和答案

第1题:

调制解调器由()等组成。

  • A、HSF芯片和晶振
  • B、光电耦合芯片
  • C、功放芯片和蜂鸣器
  • D、跳线和EPROM

正确答案:A,B,C,D

第2题:

对RTP来说,很难在高温下处理大直径晶圆片而不在晶圆片边缘造成热塑应力引起的滑移。分析滑移产生的原因。如果温度上升速度加快后,滑移现象变得更为严重,这说明晶圆片表面上的辐射分布是怎样的?


正确答案: 硅片热不均匀的因素三个因素造成硅片的热不均匀问题(硅片边缘温度比中心低):
圆片边缘接收的热辐射比圆片中心少
圆片边缘的热损失比圆片中心大
气流对圆片边缘的冷却效果比圆片中心好
边缘效应造成的温度梯度通常在几十甚至上百度,不仅导致热处理工艺的不均匀,且可能造成滑移等缺陷和硅片的翘曲。

第3题:

你认为在汇仁工作最吸引你的是什么?

或在汇仁工作最大地满足你那方面的需要?


正确答案:
      (是否能很好认同、融入汇仁的企业文化)

第4题:

表面细等轴晶区的形成条件是什么?


正确答案: 条件:液体金属的对流
动量对流、自由对流及(对流引起的)温度起伏,均→模壁上形成晶粒脱落和游离→增加凝固区内晶核数目→形成表面细等轴晶区。(激冷无对流,模壁上形成稳定凝壳,晶粒难于脱离模壁,无晶核增殖作用,不形成表面细等轴晶区)。

第5题:

沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。

  • A、不会影响成品率
  • B、晶圆缺陷
  • C、成品率损失
  • D、晶圆损失

正确答案:C

第6题:

高聚物在一定条件下可以结晶,按结晶条件不同可以形成不同形态的晶体,主要有()。

  • A、折叠链晶、伸展链晶、纤维状晶和串晶
  • B、液晶、伸展链晶、纤维状晶和串晶
  • C、折叠链晶、半晶、纤维状晶和串晶
  • D、折叠链晶、伸展链晶、无定形晶和串晶

正确答案:A

第7题:

随机误差指在确定的测试条件下,误差的数值(大小和符号)保持恒定或在条件改变时按一定规律变化的误差。


正确答案:正确

第8题:

当样品需要存放或在规定的环境条件下养护时,应保持、监控和记录这些条件。 ( )


答案:对
解析:
当样品有环境条件要求时,应保持、监控和记录环境条件。

第9题:

运维人员在客户端进行例行测试与巡检应根据客户需求开展,或在()客户准许条件下展开。

  • A、本地网调研需要
  • B、客户电路近期运行较差
  • C、故障发生率和重复率较高
  • D、随机抽查客户机房

正确答案:B,C

第10题:

集成电路的主要制造流程是()

  • A、硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试
  • B、硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路
  • C、晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路
  • D、硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

正确答案:A