增加第I类错误风险,同时降低第11类错误风险
增加第II类错误风险,同时降低第I类错误风险
降低第II类错误风险,第I类错误风险不变
降低第I类错误风险,第11类错误风险不变
第1题:
抽取子组绘制控制图时,应做到( )。
A.子组内产品尽量在短间隔内抽取
B.子组样本量越小判断越准确
C.过程稳定性好,子组间隔可以扩大
D.子组间隔越大越好
E.均值一极差图通常取的子组大小为4或5
第2题:
A.LCL=75,UCL=77
B.LCL=74,UCL=78
C.LCL=73,UCL=79
D.LCL=70,UCL=82
第3题:
经判断过程能力满足要求后,转为控制用控制图监控过程。新收集了一组样本8.1、 7.9、8.3、8.0和8.2,则以下正确的有( )
A.均值图上的描点值为8.1
B.标准差图上的描点值为0.1
C.样本均值在均值图的控制限内
D.样本标准差在标准差图的控制限内
第4题:
根据材料,回答下列各题。 根据历史数据绘制X-R控制图,子组大小等于5。经计算,X=33.5,R=6.2,查表得A2=0.577,D4=2.115,D3为0。从现场收集一子组,观测数据为38,29,32,31,36。 X图的上下控制限分别为( )。
A.37,30
B.32,25
C.28.24
D.42.40
第5题:
使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。
A.需要重新计算控制限
B.该子组中一定有不合格品
C.可判定过程处于统计失控状态
D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
第6题:
A.Xbar-R控制图不好,应采用Xbar-S控制图
B.该过程能力不足(Cp、Cpk低)
C.抽样间隔过长,应该改为半小时抽样一次
D.应先对该过程进行优化和改造,然后再进行控制
第7题:
关于控制图控制限的说法,正确的有( )。
A.分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关
B.收集的子组个数越多,控制限估计得越准确
C.控制用控制图的控制限由分析用控制图的控制限转化而来
D.控制用控制图的控制限一旦确定,就不能变更
E.可以用规范限代替控制限
第8题:
某公司每天都从当天生产的过程中随机抽取一个样本,检验其不合格品数。过去一个月中每天抽取的样本量(子组大小)为150,240,…,360。为控制产品的不合格品率,应采用( )。
A.X-R控制图
B.np控制图
C.p控制图
D.c控制图
第9题:
关于极差控制图的说法,正确的有( )。
A.极差的计算公式为子组中最大值与最小值的差
B.当子组样本量大于10时,不适宜使用极差控制图
C.极差控制图主要用于分析分布中心的波动
D.极差控制图计算简便
E.在分析阶段与均值控制图联合使用时,应先分析均值控制图
第10题:
均值控制图对子组数据收集的要求有( )。
A.子组大小越大越好
B.同一子组数据需在短时间内抽取
C.同一子组数据应来自于同一生产条件
D.每个子组的样本量一般取4~5
E.同一子组数据可在不同生产线上抽取