背散射电子像有什么特点?背散射电子像的用途?

题目
问答题
背散射电子像有什么特点?背散射电子像的用途?
参考答案和解析
正确答案: (1)背散射电子能量高,接近入射电子E0;试样中产生范围大,像分辨率低。
(2)背散射电子发射系数η:
η=IB/I0
IB背散射电子强度;I0——入射电子强度。
背散射电子发射系数η随原子序数增加而增大;但背散射电子发射系数η受入射束能量影响不大;当试样表面倾角增加时,将显著增加背散射电子发射系数η;
利用背散射电子像来研究样品表面形貌和成分分布。
解析: 暂无解析
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第1题:

原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。()


参考答案:√

第2题:

仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是

A、背散射电子

B、二次电子

C、吸收电子

D、透射电子

E、俄歇电子


参考答案:B

第3题:

背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。()


参考答案:√

第4题:

二次电子、背散射电子的定义并写出它们成像的特点。


正确答案:二次电子——在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子。成像特点:对试样表面状态敏感,产额正比于1/cosθ,只有在轻元素或超轻元素存在时才与组成成分有关;在收集栅加正压时,具有翻越障碍、呈曲线进入探测器的能力,使得试样凹坑底部或凸起的背面都能清晰成像,而无阴影效应;像的空间分辨率高,适于表面形貌观察。
背散射电子——被样品中的原子核反射回来的一部分入射电子,包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。成像特点:背散射电子能量较高,可直线进入探测器,有明显的阴影效应;产额随原子序数增大而增多;既可以进行表面形貌观察,也可以用来定性地进行成分分析。

第5题:

检查背散射的方法是?应采取哪些方法来减少背散射?


正确答案:在暗盒背面贴附“B”铅字标记,一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护符合要求。

第6题:

扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()


参考答案:×

第7题:

简述卢瑟福背散射分析的特点。


正确答案: 无损快速;
不需要标准样品;
特别适于分析轻基体中的重元素;
分析灵敏度好,一般为10-6g·g-1量级;
分析样品深度为μm量级,深度分辨率为10.0~20.0nm。

第8题:

在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做()。

A、二次电子

B、背散射电子

C、俄歇电子


参考答案:A

第9题:

背散射电子


正确答案:是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。

第10题:

简述背散射分析的灵敏度由什么决定。


正确答案:背散射分析的灵敏度由散射截面及样品性质决定。由于散射粒子计数 N 正比于散射截面 σ ,故截面越大,计数越多,分辨越好。